PCB廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備,無論是手機(jī)、電腦還是復(fù)雜的機(jī)器,都可以找到電路板的身影。

 

PCB 的缺陷或制造問題可能導(dǎo)致最終產(chǎn)品出現(xiàn)故障并造成不便。在這些情況下,制造商將不得不召回設(shè)備并花費(fèi)更多時間和資源來修復(fù)故障。

 

因此,PCB測試已成為電路板制造過程中不可缺少的一部分。及時發(fā)現(xiàn)問題,協(xié)助工作人員快速處理,保證PCB的高品質(zhì)。

 

PCB中常用的測試方法有13種。

 

在線測試(ICT)

 

ICT,即自動在線測試,是現(xiàn)代PCB廠商必備的測試設(shè)備,功能非常強(qiáng)大。主要通過測試探針檢測PCBA的開路、短路、各部分,并明確告知工作人員。

 

ICT用途廣泛,測量精度高,發(fā)現(xiàn)問題指示清晰。即使是具有平均電子技能的工人也可以輕松處理有問題的 PCBA。ICT的使用可以大大提高生產(chǎn)效率,降低生產(chǎn)成本。

 

飛針測試

 

飛針測試和在線測試 (ICT) 都是公認(rèn)的有效測試形式,都可以有效地發(fā)現(xiàn)生產(chǎn)質(zhì)量問題,但飛針測試已被證明是提高電路板標(biāo)準(zhǔn)的一種特別具有成本效益的方法.

 

與測試探針固定在適當(dāng)位置的傳統(tǒng)測試方法相反,飛針測試使用兩個或多個單獨的探針,它們在沒有固定測試點的情況下運(yùn)行。這些探頭是機(jī)電控制的,并根據(jù)特定的軟件指令移動。

 

因此,飛針測試的初始成本較低,可以通過修改軟件來完成,而無需改變固定結(jié)構(gòu)。相比之下,ICT的初始夾具成本較高,所以對于小批量訂單,飛針測試更便宜,但I(xiàn)CT比飛針測試更快,更不容易出錯,所以對于大批量訂單,或ICT成本更高-有效的。

 

功能測試

 

功能系統(tǒng)測試在產(chǎn)線中端和末端使用專用測試設(shè)備對電路板的功能模塊進(jìn)行全面測試,以確認(rèn)電路板的質(zhì)量。有兩種主要類型的功能測試最終產(chǎn)品測試和熱模型。

 

功能測試通常不提供深入的數(shù)據(jù)(例如,引腳位置和組件級診斷)來改進(jìn)過程,但需要專門的設(shè)備和專門設(shè)計的測試程序。編寫功能測試程序很復(fù)雜,因此不適合大多數(shù)電路板生產(chǎn)線。

 

自動光學(xué)檢測 (AOI)

 

AOI 使用單個 2D 攝像頭或兩個 3D 攝像頭對 PCB 進(jìn)行拍照,然后將電路板照片與詳細(xì)原理圖進(jìn)行比較。如果電路板與原理圖有一定程度的不匹配,則會對電路板的不匹配進(jìn)行標(biāo)記以供技術(shù)人員檢查,AOI可以及時發(fā)現(xiàn)故障問題。

 

但是AOI測試不會給電路板供電,不能100%檢測出所有元器件的問題。因此,AOI一般與其他測試方法結(jié)合使用。常用的測試組合是

 

AOI 和飛針

 

AOI 和在線測試 (ICT)

 

AOI 和功能測試

X 射線測試

 

X射線檢測,即X射線檢測,利用低能X射線快速檢測電路板開路、短路、空焊、漏焊等問題。

 

X射線主要用于檢測超細(xì)間距、超高密度的有缺陷的電路板,以及組裝過程中產(chǎn)生的橋接、缺片、錯位等缺陷。它還可以使用斷層掃描來檢測 IC 芯片的內(nèi)部缺陷。這是測試球柵陣列和焊球鍵合質(zhì)量的唯一方法。主要優(yōu)點是無需花費(fèi)夾具即可檢查 BGA 焊接質(zhì)量和嵌入式組件。

 

激光檢測

 

這是PCB測試技術(shù)的最新發(fā)展。它用激光束掃描印制板,收集所有測量值并將實際測量值與預(yù)設(shè)的接受限值進(jìn)行比較。該技術(shù)已在裸板上得到驗證,并正在考慮用于組裝板測試。這個速度對于量產(chǎn)線來說已經(jīng)足夠了。輸出快、無夾具、視野無遮擋是其主要優(yōu)勢;初始成本高、維護(hù)和使用問題是其主要缺點。

 

老化測試

 

老化試驗是指模擬產(chǎn)品實際使用條件所涉及的各種因素,對產(chǎn)品的老化進(jìn)行相應(yīng)條件強(qiáng)化試驗的過程。目的是測試產(chǎn)品在特定環(huán)境下的穩(wěn)定性和可靠性。

 

根據(jù)設(shè)計要求,將產(chǎn)品置于特定溫濕度條件下,持續(xù)模擬工作72小時至7天,記錄性能數(shù)據(jù),逆向改進(jìn)生產(chǎn)過程,確保其性能滿足市場需求。老化測試通常是指電氣性能測試,類似的測試包括跌落測試、振動測試、鹽霧測試等。

 

除以上7項測試外,根據(jù)產(chǎn)品要求,還將采用其他測試方法,進(jìn)一步保證PCB質(zhì)量。例如

 

可焊性測試確保堅固的表面并增加可靠焊點的機(jī)會

 

PCB 污染測試 檢測可能污染電路板、導(dǎo)致腐蝕和其他問題的高濃度離子

 

顯微切片分析調(diào)查缺陷、開路、短路和其他故障

 

時域反射儀 (TDR) 查找高頻板的故障

 

剝離測試找出將層壓板從板上剝離所需的強(qiáng)度測量值

 

浮焊測試確定 PCB 孔可以抵抗的熱應(yīng)力水平

 

PCBA測試是一個必要的過程,如果正確完成,可以防止產(chǎn)品上市時質(zhì)量問題損害品牌。

 

脆弱性測試

確保堅固的表面和額外的可成型斷點機(jī)會。

 

PCB污染測試

可以測量大量受污染的電路板,造成腐蝕等問題。

 

微量分析

檢查有無故障、開路、短路等故障。

 

時域反射儀(TDR)

開發(fā)板故障。

 

剝離測試

測量剝離和壓在板上所需的強(qiáng)度。

 

浮動測試

確保PCB孔電阻是PCBA測試熱應(yīng)力水平的必要過程。